為了方便操作者校準斜探頭角度、前沿、零點及材料聲速，提供了斜探頭雙孔法自動校準功能，利用此功能可方便的完成斜探頭的校準工作。斜探頭校準功能位于功能菜單中。

以BSM360標配的斜探頭為例，它是一個頻率5MHz，晶片為10mm×10mm，角度為K2的單晶探頭。可以利用CSK-IIIA試塊對其進行校準。

假設以深度為20mm和40mm的兩個孔對該探頭進行校準，其步驟如下：

開機,須將探頭零點值設置為0.00us，探頭前沿設置為0mm；先初步設定一個大概的聲速值如3230m/s，探頭K值設置為2（或者探頭角度設置為63.4o）；

調節閘門邏輯為單閘門方式，即閘門邏輯為正或負；

調節探測范圍使得屏幕顯示區域能顯示100mm以上的回波，如150mm；

將探頭耦合到試塊上找到20mm深度孔的回波，移動探頭使得回波幅值達到高值，移動閘門A的起點到回波并與之相交；

選擇功能組中的斜探頭校準功能菜單，按<確認鍵>確認深度值，同時探頭校準菜單內出現一個深度值數字，調整該數字使之與試塊上的反射體實際深度相同，即20mm；

測量反射體在水平表面投影到探頭前端的距離，本例中測量結果約為29mm，再按<確認鍵>確認水平投影值，此時探頭校準菜單內出現一個數字（水平投影值），調整該數字使之與上述測量的數值相同；（注意此時不要按確認鍵）

移動探頭找到40mm深度孔的回波，并使得回波幅值達到高值，移動閘門A的起點到回波并與之相交；

選擇功能組中的斜探頭校準功能菜單，按<確認鍵>確認深度值，此時系統自動調整增益值，使一次回波的幅度大約在屏幕高度的80％的位置上，同時探頭校準菜單內出現一個數字，調整該數字使之與試塊上的反射體實際深度相同，即40mm；

測量反射體在水平表面投影到探頭前端的距離，本例中測量結果約為69mm，再按<確認鍵>確認水平投影值，此時探頭校準菜單內出現一個數字，調整該數字使之與上述測量的數值相同；

再按<確認鍵>完成自動校準，此時儀器的角度、前沿、材料聲速和探頭零點將被自動調整為準確數值；

在校準確認之前，按<凍結>鍵可以取消校準過程。